美商艾法斯(Aeroflex)的测试方案主要集中在ATE自动测试系统、航空电子测试、宽带测试、通信测试、PXI模块化仪表、信号源、频谱仪和无线综测仪领域。据艾法斯中国区技术支持与市场拓展部经理丁湛介绍，目前艾法斯中国已在北京、上海、深圳和西安设有代表处及办事处，在TD-SCDMA领域，艾法斯与北京Starpoint公司成功合作并占领了60%以上的TD终端测试市场；在TD-LTE领域，该公司TM500网络测试仪在包括基站研发、生产及现场测试的整个市场占90%以上的份额。而针对TD-LTE手机、数据卡等终端的测试，艾法斯开发了7100系列，应用于研发、生产、预认证测试，该开放测试平台，可以让用户编写TD测试用例来开发TD-LTE一致性测试系统。在生产测试方案上，艾法斯的3000系列PXI射频模块结合了PXI系统的高速性和模块化理念，可满足多用途的通用无线测试，除了在TD-SCDMA手机综测仪领域与本地公司的合作，艾法斯PXI模块已广泛应用于国内手机生产线测试。

丁湛表示，艾法斯已成为TD产业联盟第一批海外测试测量仪器厂商会员，艾法斯的各种TD测试方案已经被工业和信息化部电信研究院、中移动和广大TD-LTE的系统设备制造商、芯片研发厂商及终端制造厂商等选择作为试验和测试的基准和工具。

S系列模拟信号源是艾法斯2010年推出的首款达到100μs频率切换速度的高精度信号源，是业界首款全触摸屏操作界面的射频测试仪表，并采用了新颖的Aerolock模块化互锁机构设计。不久前，艾法斯又推出了该系列两款最新仪器SGD数字矢量信号源和SVA矢量信号分析仪。SGD包括SGD-3(100kHz~3GHz)和SGD-6(100kHz~6GHz)两款型号，SVA则包括SVA-6(250kHz~6GHz)和SVA-13(250kHz~13GHz)两款型号。

据艾法斯亚太地区市场拓展经理Denny Che介绍，SGD的重要特性表现在多个方面：SGD-3和SGD-6都具备+13dBm的标准输出电平，增加选件还可以支持+20dBm的最大信号输出。信号源产品内安装了一个支持300MHz的射频带宽的IQ调制器，从而使其能够产生较宽带宽的调制信号。其内置的双通道任意波形发生器(AWG)采样速度高达250MS/s，板载波形存储空间最高可达4GB(选件)，而且支持快速的波形信号输出并具有存储多个信号的能力。嵌入式IQCreator波形产生工具使用户能够建立一个调制方案，并且通过调用模板创建一个可供AWG使用的调制波形文件。SGD在1GHz频点偏置20kHz时仅有-135dBc/Hz的超低单边带(SSB)相位噪声，并且支持仅为100μs的快速频率切换时间，这将在要求严苛的接收机测试过程中为用户显著减少测量时间、节约测试成本。IQ调制器的高动态范围提供了WCDMA信号高达-71dBc的邻道功率特性(ACLR)，从而使用户能够按照更高技术规格来设计并测试其放大器性能。

在SVA方面，SVA-13的测试频率范围可扩展至13GHz，从而允许该仪器被用来分析常用的通信频带中信号的二次谐波性能。分析带宽高达90MHz使它同样适用于测量和分析窄带和宽带通信系统。SVA仪表可直接测量的峰值电平达+30dBm。凭借-148dBm/Hz的最大测试灵敏度，极低电平的信号也能够从噪声中清晰地分离出来，这对测量发射机的杂散信号输出尤为重要。此外， SVA拥有一组多样化的、用于无线通信测试的测量套件(选件)，覆盖了绝大多数2G、3G、4G、WMAN、 WPAN、WLAN及LTE标准，可为研发及产线制造阶段的移动终端测试提供符合测试标准的功率电平、调制质量和频谱参数等测量结果。本振在2GHz、偏置为10MHz时的相位噪声为-138dBc/Hz；同时在频率高达6GHz时，频率切换设置能在250μs内完成，使SVA成为高产能RFIC测试的理想选择。

Denny表示，SVA可与SGD信号发生器或其它S系列模组同步并组合使用，从而减少了安置测试系统所需的空间，并带给用户简便的高度集成化的测试解决方案。新S系列的目标市场包括前期研发、制造业、军工与航天、服务与维护行业和通用领域。