另外，由于RFID采用无线传输方式，再加上实际工作环境复杂，存在竞争、冲突和干扰问题。因此，RFID信号测试项目很多：包括许多和时间相关的参数，如读写器和标签发射机响应时间参数、跳频时间、码元周期等，还包括频域指标、调制域指标等。

曾志总结了RFID测试面临的主要挑战：

1.读写器测试

- 需要能够准确、快速地捕获RFID的间歇性突发信号；

- 需要兼容多种调制和解码方式及标准；

- 需要时域频域和调制域的联合分析，时间相关测量 （如标签读取的时序）；

- 需要强大的频域触发功能，捕获频域上的特定信号（如干扰）；

- 跳频信号捕获（触发）和解调分析 .

2.标签测试

- 需要对微弱信号的测量和分析能力；

- 需要兼容多种调制和解码方式，自动解调和解码

3.系统测试

- 密集环境下的交互和抗干扰测试；

- 一致性（互通性）测试；

- 系统读写周期分析；

- 解码和信令测试；

- 需要长存储，存储多个完整的读写周期，便于对读写状态分析。

“能实时、准确捕获RFID间歇性信号，支持多标准、多域分析功能等，这是相应信号分析设备应对上述三个方面测试挑战所要具备的特性。”曾志指出，“泰克基于DPX专利技术的实时信号分析仪（RTSA）系列以及最新推出的集成频谱分析仪的混合域示波器MDO4000系列为RFID研发、现场和认证测试提供了强大的解决方案平台。”

跨越研发、现场、认证测试“三重门”

RFID的测试分为研发测试（读写器实验室研发、系统开发和验证）、现场测试（系统调试、电磁环境评估、干扰查找和定位、数据采集）和认证测试（RFID标准一致性测试、系统互通性测试 ）三个阶段。