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校正法关键字列表
红外焦平面阵列传感器 非均匀性校正技术研究的最新进展
红外焦平面阵列的加工工艺精度问题造成了感应单元之间的差异,实际表现为针对相同的热目标,不同的感应单元响应值不同,解决这个问题的方法称为“非均匀性校正”技术。根据原理可知,一点校正法的假设条件是:针对均匀辐照面目标,(FPA温度,目标反应值)曲线与(FPA温度,参考黑体值)曲线是平行关系。
校正法 红外焦平面阵列
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